一、应用领域：大面积 3D 光学测量系统

• 先进制造业
• 考古学与古生物学
• 消费类电子产品
• 医疗设备
• 模塑
• 光学
• 钟表业

二、产品优势

1. 亚微米高度可重复性，可扩展整个区域内

2. 无需 Z 轴扫描即可测量 40mm 的单次测量高度

3. 具有极低场失真的双侧远心镜头，提供精确的测量

4. 可追溯性：采用ISO 标准

每一款 S wide 产品都是为提供准确且可追溯的测量结果而制造的。系统根据 ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯标准进行校准。

5. 与 3D CAD 模型的形状偏差：提供几何差异和公差测量

6. 表面纹理测量仪器的校准

我们的所有系统精心制造，提供准确、可追溯的测量。系统按照符合ISO 25178第 7 部分关于下列参数的指南的可追溯标准进行校准：Z 放大系数、XY 横向尺寸、平面度误差以及偏心度。