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MOS管参数测试仪 场效应管测试仪 SC2015
来自西安中昊芯测科技有限公司
¥15000.00
发布时间  2025-03-07 17:16:07 关注次数  37
西安中昊芯测科技有限公司
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图文介绍 产品参数 供应商信息

MOS管参数测试仪SC2015


一、产品简介/特点

MOS管参数测试仪SC2015主要用于中小电子产品企业对场效应管或IGBT的批量测量,筛选非常适合来料检验使用
1、采用高精度AD,满足测量精度,而高速微处理器和电子开关,使测量工作迅速、高效、宁静。采用国际先进脉冲测量法,可以提供10A~最大75A以上的测试电流,而不会使被测管子发热。有自动均流功能,确保被测管安全。
2、有自检功能、测量判断功能以及故障报警指示功能,当不是Vmos管时或错插等,测量不能继续。在测量前后,测量插座栅源之间是短路状态,以确保被测量管插入或拔出管座时的安全。
3、有20A~150A容量选择,即便是选错电流档用最大电流测量小容量管子,也不会损害被测管。
4、您可以按需要设定分选参数范围。可设定的有:开启电压Ut、跨导Gfs、通态电阻Ron以及极间电容Cir的下限和上限。对于超限的测量,蜂鸣器会报警,并且哪个参数超限,会闪烁提示,用户可以不大理会符合标准的参数具体数据,只在报警时注意闪烁的参数,这样极大的方便了工业批量测量。
5、使用简单,不需要专业知识。

6、规格尺寸240*350*130mm(宽*深*高),桌面小台式结构,采用铝合金冷拉型板为框架,支脚可调。

7、工作台有TO220和3P插座面板设有容量选择,以及220/3P选择方便用户使用。
二、性能指标:
1、测量VMOS管可同时显示:
 通态电阻Ron1~999mΩ (超过999 mΩ时,自动转为9.99Ω挡)
 跨导Gfs0~99.9S

耐压Bv:0~1999V
 开启电压Ut0~12V
 极间电容Cir0.1~9.9 (np)

通态最大电流Id:0-129.9V
2、如果您需要,通过辅助功能键,还可以得到:
a、Cir 1% nP精度;
b、Ut 1%V 精度;
c、测量Ron时的: Ids(max A),Vds(min V);
 d、以及测量Ggs时:Ids(A),Vds(V),Vgs(V);
3、10位LED显示。
4、设备供电160V~230V 正常工作。
三、测试参数:

1)二极管Diode

静态参数:BVR/击穿电压、IR/漏电流、VF/正向压降;

(2)三极管Transistor

静态参数:BVCES/集射极击穿电压,VGE(th)/栅极开启电压 、ICES/集射极漏电流、VCESAT/饱和压降

(2)场效应管MOSFET

静态参数:BVDSS/漏源极击穿电压,Ut/开启电压,Ids/漏源极漏电流,Vf/二极管正向压降;Ron/导通内阻Gfs/跨导,Cir/极间电容

3)晶体管IGBT

静态参数:BVCES/集射极击穿电压,VGE(th)/栅极开启电压 、ICES/集射极漏电流、VF/二极管正向压降;VCESAT/饱和压降

应用领域:

电子厂的功率器件来料检验、器件厂的产品分选、电子产品研发的选型配对、电子产品维修检验等。

 

品牌中昊芯测
型号SC2020
类型直流参数测量仪
加工定制
外形尺寸其他
重量35KG
西安中昊芯测科技有限公司
  • 公司类型私营独资企业
  • 经营模式生产加工-私营独资企业
  • 联系人
  • 联系手机17795792519
  • 联系固话-
  • 公司地址陕西省西安市未央区凤城二路10号B座812
主营业务
半导体分立器件测试系统、分立器件测试仪、MOS管测试仪、IGBT测试仪、晶闸管测试仪、光耦测试仪
西安中昊芯测科技有限公司,是一家专业从事半导体电性能测试设备开发制造、电参数测试方案搭建、综合测试分析服务于一体的技术服务型企业,核心业务为半导体分立器件电学参数测试设备的开发制造,产品主要涉及分立器件测试仪、MOS管测试仪、IGBT测试仪、晶闸管测试仪、光耦测试仪、继电器测试仪、功率循环、环境老化、雪崩浪涌等测试系统,产品具有高速智能、高精度、宽量程等技术优势,已经广泛应用于高校、科院院所、家电、新能源汽车、轨道交通、半导体器件设计制造公司的器件测试验证、参数评估、电子厂来料检验、实验室失效分析、器件选型、参数配对、寿命预估等诸多领域。同时提供高性价比的器件测试服务,测试项目包括功率半导体器件的电学测试、失效分析、可靠性、环境试验等。我司与西安电力电子所,西安交通大学微电子学院有着深度合作关系,在半导电测试领域有着超过10年的行业经验。本着科技创新,服务无限的经营理念,我司积极响应国家提出的中国制造2025战略,致力于提供高性能、低成本的国产测试设备,为我国半导体测试设备国产化贡献一份微薄力量!
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