半导体分立器件测试系统&晶体管图示仪&功率器件静态参数测试仪

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来自西安中昊芯测科技有限公司

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发布时间 2025-02-27 19:01:53 关注次数 67

西安中昊芯测科技有限公司

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图文介绍产品参数供应商信息

SC2010半导体分立器件测试系统

1.1 系统概述

SC2010半导体分立器件测试系统是一款非常具有代表性的新型半导体晶体管参数测试图示系统，是美国STI5000系列测试机的国产替代机型，本系统可自动生成功率器件的 I-V 曲线，也可根据客户的实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统在失效分析， IQC 来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用 ATE 系统逐点建立，保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是 6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来，数据捕获的曲线可导入 EXCEL 等格式进一步分析研究，是一款高效多功能的半导体测试设备。

本系统使用方便，只需要通过 USB 或者 RS232 与电脑连接，通过电脑中友好的人机界面操作，即可完成测试。并可以实现测试数据以 EXCEL 和 WORD 的格式保存。系统提供过电保护功能，门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测试。这些自我测试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。对诊断设备状态和测试结果提供了可靠地保证。

1.2 系统指标

测试电压： ≤2KV

测试电流： ≤100A

电压分辨率： 1mV

电流分辨率： 0.1nA

测试精度： 0.2%+2LSB

测试速度：约0.5ms/参数

测试方式：程控脉冲式

脉冲宽度： 300us至5ms

规格尺寸： 570*450*280mm

1.3 产品特点

测试范围广（19 大类，27 分类）

扩展性强，支持电压电流阶梯式升级至 2000V,1250A

被测器件接触不良时系统自动停止，保证被测器件不受损坏

动态跨导测试精准（主流的直流法测得，其结果与实际值偏差很大）

系统故障在线判断定位设计，便于应急处理排障

二极管极性自动判别功能，无需人工操作

IV 曲线显示 / 局部放大

程序保护最大电流 / 电压以防损坏

品种繁多的曲线

可编程延迟时间可减少器件发热

曲线和数据直接导入到 EXCEL

1.4 测试能力

SC2010测试系统是专为测试半导体分立器件而研发设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力，能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列：

序号	测试器件类别	测试参数列表
1	二极管 DIODE	IR；BVR ；VF
2	晶体管 TRANSISTOR	ICBO ； ICEO ； ICER ； ICES ； ICEV ； IEBO ；BVCEO ；BVCBO ；BVEBO； HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF
3	J 型场效应管 J-FET	IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF
4	场效应管 MOS-FET	IDSS ；IDSV；IGSSF； IGSSR ；VGSF ；VGSR ；BVDSS ；VGSTH ；VDSON、 VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS
5	双向可控硅 TRIAC	VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH-
6	可控硅 SCR	IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH
7	绝缘栅双极型晶体管 IGBT	ICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS
8	硅触发可控硅 STS	IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ； VPK-；VGSW+；VGSW-
9	达林顿阵列 DARLINTON	ICBO ； ICEO ； ICER ； ICES ； ICEX ； IEBO ； BVCEO ； BVCER ； BVCEE ； BVCES ；BVCBO；BVEBO；hFE ；VCESAT； VBESAT；VBEON
10	光电耦合器 OPTO-COUPLER	ICOFF 、 ICBO ； IR ； BVCEO ； BVECO ； BVCBO ； BVEBO ；； CTR ； HFE ； VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode)
11	继电器 RELAY	RCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME
12	稳压、齐纳二极管 ZENER	IR；BVZ；VF；ZZ
13	三端稳压器 REGULATOR	Vout；Iin；
14	光电开关 OPTO-SWITCH	ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF
15	光电逻辑 OPTO-LOGIC	IR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF
16	金属氧化物压变电阻 MOV	ID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ；
17	固态过压保护器 SSOVP	ID+ ID- ；VCLAMP+, VCLAMP- ；VT+ 、VT- ； IH+ 、 IH- ；； IBO+ IBO-； VBO+ VBO-；VZ+ VZ-
18	压变电阻 VARISTOR	ID+； ID-；VC+ ；VC-
19	双向触发二极管 DIAC	VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,

1.5 曲线列举（部分）

MOSFET曲线

ID vs. VDS at range of VGS

ID vs. VGS at fixed VDS

IS vs. VSD

RDS vs. VGS at fixed ID

RDS vs. ID at several VGS

IDSS vs. VDS

TRANSISTOR曲线

HFE vs. IC

BVCE（O,S,R,V）vs. IC

BVEBO vs. IE

BVCBO vs. IC

VCE（SAT）vs. IC

VBE（SAT）vs. IC

VBE（ON）vs. IC （use VBE test）

VCE（SAT）vs. IB at a range of ICVF vs. IF

1.6 应用领域

分立器件设计厂家、封装厂器件测试、电子产品厂家来料检验、实验室选型配对、设备维修分析、高校器件教学、研究所器件设计等等。

品牌中昊芯测

型号SC2010

类型直流参数测量仪

加工定制否

外形尺寸其他

重量35KG

西安中昊芯测科技有限公司

公司类型私营独资企业
经营模式生产加工-私营独资企业
联系人黄
联系手机17795792519
联系固话-
公司地址陕西省西安市未央区凤城二路10号B座812

主营业务

半导体分立器件测试系统、分立器件测试仪、MOS管测试仪、IGBT测试仪、晶闸管测试仪、光耦测试仪

西安中昊芯测科技有限公司，是一家专业从事半导体电性能测试设备开发制造、电参数测试方案搭建、综合测试分析服务于一体的技术服务型企业，核心业务为半导体分立器件电学参数测试设备的开发制造，产品主要涉及分立器件测试仪、MOS管测试仪、IGBT测试仪、晶闸管测试仪、光耦测试仪、继电器测试仪、功率循环、环境老化、雪崩浪涌等测试系统，产品具有高速智能、高精度、宽量程等技术优势，已经广泛应用于高校、科院院所、家电、新能源汽车、轨道交通、半导体器件设计制造公司的器件测试验证、参数评估、电子厂来料检验、实验室失效分析、器件选型、参数配对、寿命预估等诸多领域。同时提供高性价比的器件测试服务，测试项目包括功率半导体器件的电学测试、失效分析、可靠性、环境试验等。我司与西安电力电子所，西安交通大学微电子学院有着深度合作关系，在半导电测试领域有着超过10年的行业经验。本着科技创新，服务无限的经营理念，我司积极响应国家提出的中国制造2025战略，致力于提供高性能、低成本的国产测试设备，为我国半导体测试设备国产化贡献一份微薄力量！